Kus P., Plecenik A., Plecenik T., Truchly M., Zhitlukhina E., Belogolovskii M., Dvoranova M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, thin films, substrate LaAlO3, contact characteristics, switching process, nanoscaled effects, thin films, substrate LaAlO3, microstructure, critical caracteristics, current-voltage characteristics, numerical analysis, experimental results
J Applied Physics, 2016, v.120, N 18, p.185302
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.